Product Description Dieses Lehrbuch wendet sich vor allem an Studierende des Chemieingenieurwesens und der Verfahrenstechnik, aber auch in der Praxis tätige Ingenieure können hier eine nützliche Hilfe finden. Es werden die Grundlagen der drei wichtien Thermischen Trennverfahren Verdampfung, Kristallisation und Trocknung vermittelt, deren hier gewählte Reihenfolge vielfach auch dem Ablauf einzelner Schritte in einer Produktion entspricht. Die Verfahren werden zunächst kurz beschrieben und die notwendigen physikalischen Grundlagen dargestellt. Im wesentlichen befaßt sich dieses Buch jedoch mit der Auslegung entsprechender Apparaturen für diese Verfahren, auf deren praktische Ausführung mit Berechnungen und zahlreichen, anschaulichen Abbildungen eingegangen wird. In Übungsbeispieoen wird das Verständnis mit ausführlichen Lösungswegen vertieft. TOCVerdampfung.- Kristallisation.- Trocknung.-
Buch:
Kristallographie - Eine Einführung für Naturwissenschaftler (Springer-Lehrbuch)
Autor:
Walter Borchardt-Ott, Ausgabe vom 13. Juni 2008, Taschenbuch, Verkaufsrang 243757
Buch:
Röntgenpulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung
Autor:
Rudolf Allmann, Arnt Kern, Ausgabe vom 11. Sept. 2002, Taschenbuch, Verkaufsrang 308818
Product Description Die Beugung von Röntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern PCs und von schnelleren Detektoren hat in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten geführt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und Übungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird außerdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegenüber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausführlicher behandelt. TOCRöntgenstrahlen.- Erzeugung von Röntgenstrahlen.- Nachweis.- Absorption.- Beugung.- Kristalle.- Kristallgitter.- Miller'sche Indizes und Netzebenenabstände.- Das reziproke Gitter.- Symmetrie und Kristallklassen.- Verbotene Reflexe.- Messung von Pulverdiagrammen.- Elektronisch registrierende Diffraktometer.- Messungen unter Druck, bei hohen und tiefen Temperaturen.- Von der Rohdatei zur Reflexdatei.- Manuelle und digitale Auswertung.- Einsatz der Reflexliste DIF-Datei.- Phasenidentifizierung unter Verwendung der PDF-Datei.- Phasenbestimmung mit dem PC.- Einsatz der Rohrdatei.- Phasensuche.- Profilanalyse.- Berechnete Pulverdiagramme.- Rietveldmethoden.
Buch:
Physikalische Grundlagen der Materialkunde (Springer-Lehrbuch)
Autor:
Günter Gottstein, Ausgabe vom 18. Mai 2007, Taschenbuch, Verkaufsrang 135905
